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一种定制的低成本ATE测试夹具s参数验证方法


本文总结了一篇由英飞凌和Advantest在TestConX 2022上联合开发和提交的论文的内容。ATE系统的待测设备(DUT)夹具提出了几个验证挑战。用户需要快速轻松地测量DUT测试夹具,同时确保测量模拟ate到测试夹具的接口性能,并确定如何处理DUT…»阅读更多

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