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标签:随机缺陷

现在首要任务在高级节点系统的产量问题
通过劳拉·彼得斯2022年12月- 06 -评论:0

系统产生问题取代随机缺陷作为主要关注在最先进的半导体制造过程节点,需要更多的时间,精力,和成本达到足够的收益。收益率是终极嘘嘘在半导体制造话题,但它也是最重要的,因为它决定了有多少芯片可以出售获利。“老节点b…»阅读更多

地理空间异常值检测
通过安妮Meixner——7月19日,2021 -评论:0

比较模测试结果与其他死在晶片可以帮助识别异常值,但将该数据与局外人的确切位置提供了一个更深的了解。可以去错了,为什么。异常值检测的主要思想是找到或死亡,不同于其他所有的死在一个晶片。这样的环境中死亡的邻居已经成为据…»阅读更多

更好的检验,更高的收益率
通过布来安梅奥- 08年9月,2020 -评论:0

晶片可以检查大,明显的缺陷,或小,微妙的。前者称为宏观检查,而后者是micro-inspection。这些过程使用不同的机器有不同的资本和运营成本,和他们可能看起来像竞争方法与不同的经济回报。事实上,他们是互补的策略,可以平衡在一个…»阅读更多

使用静态分析功能安全
通过埃德·斯珀林1月- 15,2020 -评论:0

Maamari Fadi,这个小组组Synopsys对此研发主管,解释了为什么静态分析的需求突然汽车芯片设计,如何可以帮助选择最佳功能安全的实现方法,并融入设计流程。»阅读更多

产量增加的挑战增加
通过安Mutschler- 11年12月,2014 -评论:0

随着半导体制造较小的流程节点,毫无疑问,它是越来越难坡道测试和生产产量。这只是原因之一。较小的节点转化为更多的步骤和更复杂的生产过程,和服务员过程变化。“小过程节点增加嵌入式mem……»阅读更多

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