分组扫描测试交付


由于设计尺寸、设计复杂性和测试适应性的急剧增加,将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道的传统方法面临压力。为了解决这些挑战,我们现在可以选择实现一个用于扫描测试的分组数据网络,它可以比传统的针…»阅读更多

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