标签:芯片上的过程监控

监控集成电路异常之前失败
通过安妮Meixner- 07年7月,2020 -评论:0

半导体过程的不断增加的复杂性和设计驱动越来越使用的芯片上的监视器来支持数据分析集成电路的诞生通过它的生命结束,无论多长时间,预计寿命。工程师们长期使用片上电路协助生产测试中,硅调试和故障分析。提供可见性和可控性的国米…»阅读更多

感应汽车集成电路故障
通过安妮Meixner——5月12日,2020 -评论:1

你越早检测失败在任何电子系统,你可以越早行动。在一起,数据分析和片上传感器有望提高质量汽车芯片和添加一个水平的增长预测维修车辆。不断增加芯片的汽车很难达到10每十亿有缺陷的零件每个集成电路进入一辆汽车。并要求15岁……»阅读更多

定制的芯片上的过程监控
通过Khushal Gondaliya——3月26日,2015 -评论:0

数字电路处理变化的敏感性与扩展在MOSFET设备不断增加。过程变化的效果产生重大影响的力量,产品的性能和可靠性。这些过程变化可以跨芯片或薄片,本地或甚至lot-to-lot。这些过程的变化需要观察和分析为了……»阅读更多

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