检查集成电路包使用模具进行分拣


转向更复杂的集成电路包需要更先进的生产流程检查系统捕获的缺陷产品。这包括传统的光学检验工具在线生产流程,但现在它也需要新的模具整理设备和先进的检验能力。死亡分类器不是一种设备,通常吸引attenti……»阅读更多

日益先进的包装缺陷挑战


目前包装的缺陷检测系统的蒸汽的最新先进的包,促使市场需要新的工具。作为回应,一些厂商推出新缺陷检测系统用于各种先进的软件包,如2.5 d / 3 d技术和扇出。新的缺陷检测系统能够比之前的工具,但是……»阅读更多

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