标签:存储器内建自测

共享总线内存测试自动化Tessent MemoryBIST
通过西门子EDA4月- 12,2022 -评论:0

新的需求在汽车、人工智能(AI)和处理器应用程序导致增加使用内存占用较多的IP。这些应用程序内存占用较多的IPs是高绩效的优化,他们往往会有一个单一访问点测试的记忆。Tessent MemoryBIST提供了开箱即用的解决方案使用这个单一访问点,或共享总线int……»阅读更多

通过一个共享的总线接口自动记忆测试
通过Harshitha Kodali4月- 12,2022 -评论:0

内存占用较多的IP soc汽车的使用,人工智能(AI)和处理器应用程序正在稳步增加。然而,这些内存占用较多的IP通常只有一个访问点进行测试的记忆。共享总线架构允许检测和修复记忆在IP核通过单一访问点称为一个共享的总线接口。在这个界面……»阅读更多

卷积Compaction-Based MRAM故障诊断
通过技术论文链接- 03年9月,2021 -评论:0

文摘:“自旋转矩磁阻的随机存取记忆(STT-MRAMs)正逐渐取代传统的sram在soc设计中最后一级缓存。他们的制造过程包括削减参考电阻STT-MRAM模块可靠地确定逻辑0和1的值读取操作。通常,一个芯片上的削减常规由乘…»阅读更多

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