声的平衡检查


声音能量快速发现空洞,分层,裂纹,和其他可能的缺陷,可以从外部芯片或包,以及一些芯片内部的缺陷。但声学检验也高度敏感不同的材料不同的极性,从而改变声波的反射。产品营销经理比尔•祖克曼Nordso…»阅读更多

如果Hardmask (Si-HM) EUV和零缺陷


光刻技术中使用的多层系统由一个区域碳层下hardmask etch-transferring层和限制标准光刻胶涂层。在过去,布鲁尔科学深入讨论了多层系统如何帮助延长ArF(193海里)浸没式光刻比重能够打印和传输特性,确保足够的窗口过程尤其是……»阅读更多

将材料破坏摩尔定律吗?


摩尔定律慢下来吗?显然,芯片制造商都在努力跟上摩尔定律。但有时忘记和关键技术可以很容易地破坏摩尔定律——材料。事实上,电子材料的成本和复杂性增加在每个节点。“化学和天然气商品采购支出快速增长由于过程的复杂性和联合国…»阅读更多

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