标签:故障模拟

验证安全至上的FPGA设计与故障模拟
通过Synopsys对此2021年1月- 12 -评论:0

支持安全、保证设计,如芯片用于工业、航空航天和国防应用,需要更多的比传统的功能验证。即使每一个bug被发现和固定在释放之前,这些应用程序有其他功能安全的要求。他们必须能够处理各种故障和引起的错误,通过纠正他们或…»阅读更多

自动化和故障模拟安全至上的FPGA设计
通过Mallett乔12月- 15,2020 -评论:0

功能安全是一个重大的挑战在现场可编程门阵列(fpga)和其他半导体的设计。安全要求超越传统的验证,其重点是设计缺陷。芯片对安全性要求苛刻的应用程序必须能够处理各种故障来源如极端温度和功率,设备老化、辐射、电离和组件失败。美联社……»阅读更多

提高测试覆盖率和消除测试Ecapes使用模拟缺陷分析
通过节奏2020年5月- 06 -评论:0

在模拟和混合信号组件的主要来源测试逃逸,导致失败,缺乏工具分析测试覆盖率的设计师在设计使得它难以解决这个问题。在本白皮书中,我们探索的方法来执行基于defect-oriented模拟故障模拟测试覆盖率测试。此外,我们看看h……»阅读更多

验证功能安全(第2部分)
通过布莱恩•贝利2018年2月- 22(-评论:0

汽车行业正在与成本之间的权衡和安全。cost-insensitive安全是很好理解的行业,如航空航天、医疗和消费者行业有着悠久的降低成本,同时增加的记录功能。但是这两个行业可以聚集在一个安全的和有效的方式,使汽车能够实现……»阅读更多

安全+安全:一个新的挑战
通过布莱恩•贝利- 08年6月,2017 -评论:0

没有人安全或安全特性集成到他们的设计仅仅因为他们感觉它。通常,连续高调攻击需要甚至一个行业的关注。在那之后,它并不总是清楚如何最好地实现解决方案或成本之间的权衡是什么,性能,和风险与受益。把安全放在同一篮子……»阅读更多

故障模拟重生
通过布莱恩•贝利2月23日,2017 -评论:0

故障模拟,最古老的EDA行业工具箱中的工具之一,是收到严重的整容后它从存在几乎消失了。在早期,故障模拟被用来年级制造业的质量测试向量。这个任务几乎完全取代了[getkc id = " 173 "评论=“扫描测试”)和自动测试模式生成(生成)。今天,功能安全是标出……»阅读更多

模拟故障模拟的挑战和解决方案
通过导师,西门子业务- 9月28日,2016 -评论:0

数字电路模块的测试时间ICs大大减少在过去的20年里,由于scan-based适当时机(DFT),自动测试模式生成(生成)工具,和扫描压缩。这些技术已经大大减少了测试向量的数量采用自动测试设备(吃),同时最大化的覆盖范围广泛的缺陷类型。但对于模拟c…»阅读更多

承担后果的时候了
通过布莱恩•贝利- 7月28日,2016 -评论:3

魔笛哈梅林的德国寓言是关于一只老鼠捕手用他的魔术管吸引了老鼠。当他没有支付的小镇,他用烟斗吸引了镇上所有的孩子。我不认为同样的适用于半导体行业和没有支付[getkc id =“7”kc_name =“EDA”),但我不认为他们已经支付了足够的和他们现在将不得不……»阅读更多

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