标签:每百万缺陷

追逐测试IC制造业逃
通过安妮Meixner2021年5月- 11 -评论:0

坏芯片的数量单通过测试和最终可以显著减少这些设备之前离开工厂,但成本的急剧发展中必要的测试和分析数据采用有限。确定一个可接受的测试逃脱度量的IC芯片制造业yield-to-quality比率提高至关重要,但到底是什么…»阅读更多

是一堆死生态系统停滞不前?
通过安Mutschler- 12月18日,2014 -评论:2

现在普遍认为已经没有多少发生的采用为2.5 d插入器和3 d ICs。“似乎每个人都还在起跑线上等待比赛开始,“哈维尔DeLaCruz说,高级主管工程[getentity id = " 22242 " e_name = " eSilicon "]。“插入器组装和IP可用性有效地使用[getkc id = " 82 "评论= " 2.5 d IC……»阅读更多

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