标签:芯片失效分析

更好,更快,更高效的验证与人工智能的力量
通过Synopsys对此- 07年9月,2022 -评论:0

验证通常是最具挑战性的芯片开发过程的一部分。验证工程师必须平衡的结果(QOR)随着时间的推移,结果质量成本(竞技场队伍)和结果(心脏)。AI和ML技术可以在提高QOR扮演了一个重要的组成部分,加快竞技场队伍,并减少心脏。本白皮书轮廓的一些主要挑战验证,描述了人工智能专业…»阅读更多

集成电路可靠性的负担转移走了
通过安Mutschler——6月23日,2022 -评论:0

芯片的可靠性受到更严格的审查,IC-driven系统承担越来越重要和复杂的角色。不管是流浪α粒子,翻转一个内存,或者一些久软件缺陷或潜在的硬件缺陷突然造成问题,现在的芯片行业,以防止这些问题在第一时间,并解决他们当他们做起来……»阅读更多

自动提取秘密使用激光辅助从晶体管丛林边信道攻击
通过技术论文链接- 08年9月,2021 -评论:0

文摘:“现代电子设备的安全性依赖于密钥存储在安全的硬件模块作为root-of-trust(腐烂)。提取这些键会破坏整个系统的安全。如图所示,复杂的边信道分析(SCA)攻击,使用芯片失效分析(FA)技术,可以从片上记忆细胞中提取数据。然而,由于芯片的……»阅读更多

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