主动学习,以减少数据在半导体制造缺陷识别的要求


新技术论文题为“探索半导体缺陷分割的主动学习”研究机构发表的科学技术和研究(A * STAR)在新加坡。“我们识别两个独特的挑战当应用艾尔在半导体XRM扫描:大域和严重class-imbalance转变。为应对这些挑战,我们建议进行对比pretrainin……»阅读更多

一个消色差x光透镜


抽象的“衍射和折射光元素已经成为不可分割的一部分,大多数高分辨率x射线显微镜。然而,他们受到固有的色差。这日期限制他们使用narrow-bandwidth辐射,本质上限制这样的高分辨率x射线显微镜高亮度同步源。类似于可见光光学、一种t…»阅读更多

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