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利用动态性能优化减少模拟回归周转时间


在半导体器件的开发中,没有哪个步骤比功能模拟对速度更敏感。现代的片上系统(SoC)设计在完成验证计划和实现覆盖目标的过程中模拟了数十亿个操作周期。为了验证完整的系统功能,许多模拟包括在一个或多个嵌入式处理器上运行代码。E……»阅读更多

软件驱动和系统级测试驱动芯片质量


传统的半导体测试通常包括由自动测试设备(ATE)执行的测试。但工程师们开始倾向于在系统环境中测试片上系统(soc)的额外后期测试,以便在最终产品组装之前发现设计问题。“系统级测试(SLT)提供了一个大容量的环境,您可以在其中测试硬件和软件切换……»阅读更多

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