为什么每个IP设计都需要一个完整的测试方法


创新设计IP是一个关键因素在当今半导体工业。随着硅设计的复杂性和规模的增加,那么设计和验证的时间。设计IP支持模块化和重用的设计组件,以便设计者可以利用已经存在的组件作为基准,加快设计进度。因此,不足为奇的使用…»阅读更多

双相放大效应的定量模型:一种新的方法来确定半导体/氧化物界面状态密度


抽象的“我们报告一个双相放大效应模型(BAE),使缺陷密度测量利用BAE在金属氧化物半导体场效应晶体管。BAE是一个电磁共振(EDMR)技术,检测到最近被用于缺陷识别因EDMR灵敏度和选择性的改善界面缺陷....»阅读更多

测试人工智能系统


人工智能正在蓬勃发展。这是来你可能甚至在你附近的一个设备。和AI将用于设计、制造,甚至船这些设备,不管它们是什么,使用它们的地方,或者他们是如何运输。现在的大问题是这些系统的工作,如何——那些指标甚至是什么意思?一个人工智能系统,或增高系统,应该适应那儿的……»阅读更多

加快上市时间与变化的影响的测试


QA团队还没有时间来测试一切他们买不起船有bug的代码。测试团队浪费宝贵的资源,没有相关性所做出的更改应用程序。更糟的是,可能有漏洞可能导致回归风险的测试覆盖率。学习Coverity可以帮助组织减少他们的测试周期,降低回归风险船……»阅读更多

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