利用半导体测试数据的力量


每天都在开发新的方法来收集、清理、集成和分析数据源,并从中提取有用的、可操作的情报,以帮助决策和其他过程。这适用于各种行业,包括半导体设计、制造和测试。摩尔定律(图1)可能会减慢晶体管临界的传统缩放…»阅读更多

用动态参数测试推动预测分析


半导体制造中参数测试的基础是它在确定晶圆是否被正确制造时的有用性。晶圆代工厂使用参数测试结果来帮助验证晶圆是否可以交付给客户。对于idm,测试确定晶圆是否可以发送进行排序。通常插入半导体制造流程在晶圆结构…»阅读更多

在情境中进行测试


随着芯片复杂性的增加,以及集成电路部署在更加安全关键和任务关键的应用程序中,环境测试开始获得更广泛的吸引力。虽然在上下文中设计已经成为soc的标准已经有一段时间了,但在测试中采用类似的方法却进展缓慢。细胞感知测试技术在十年前首次被描述,从那时起,它的应用一直是适度的。但是w…»阅读更多

假设所有“死”的都是“好”死吗?


在一个质量和品牌保护为王的世界里,就像汽车和医疗设备行业的情况一样,严格的最小DPPM(百万分率缺陷件)要求是一个常见的约束条件,半导体供应商不断评估和实施“逃逸”预防和异常值检测的新方法,以防止任何缺陷或边际故障。»阅读更多

一种更有效的方法来计算数千个测试的设备规格,以提高质量和产量


今天的设备在交付给客户之前需要通过数千项参数测试。除了优化他们在设备上运行的测试数量之外,测试工程师面临的一个关键挑战是如何快速准确地定义用于确定设备是否“良好”的真正规格限制。设备规格限制过宽可能会…»阅读更多

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