标签:大规模集成电路逻辑

地理空间离群点检测
通过安妮Meixner- 2021年7月19日-意见:0

将晶圆上的晶片测试结果与其他晶圆上的晶片进行比较有助于识别异常值，但将这些数据与异常值的确切位置结合起来，可以更深入地了解可能出错的地方和原因。离群点检测的主要思想是在晶圆片上找到与其他晶圆片不同的晶圆片内或晶圆片上的某些东西。这样做的背景下，一个骰子的邻居已经变得很容易…»阅读更多

使用分析来减少疲劳
通过安妮Meixner- 2021年1月12日-意见:3

硅供应商正在使用自适应测试流程来降低老化成本，这是阻止高级节点和高级封装成本增加的众多方法之一。没有人喜欢手机在购买后的第一个月内出现故障。但是，当数据仓库服务器或汽车中的关键组件出现故障时，问题就更加紧迫了。可靠性期望……»阅读更多

自适应测试取得进展
通过安妮Meixner- 2020年11月10日-评论:0

不是所有的设备都以同样的方式进行测试，这是一件好事。质量、测试成本和产量促使产品工程师采用属于自适应测试的测试过程，自适应测试使用测试数据来修改后续的测试过程。但是要执行这样的技术，需要后勤支持数据分析，以及支持基于测试的更改…»阅读更多

重新思考数据中心中的ssd
通过盖尔莫里森- 2017年8月3日-评论:0

控制数据中心内固态硬盘(ssd)上数据和下数据方式的半导体迎来了辉煌时刻。这种兴趣的激增不仅仅涉及SSD设备。它利用了整个生态系统，从系统架构师和设计工程师开始，他们必须找出数据在芯片上和芯片外以及通过系统的最佳路径。它还包括……»阅读更多

芯片技术在云计算领域发挥重要作用
通过盖尔莫里森- 2016年12月12日-意见:0

近年来，半导体工程团队一直在与数据中心生态系统中的主要参与者合作，导致数据中心的架构和构建方式发生了不可预见的重大变化。这包括从盒子、电路板、卡片和电缆的去向，到运行这些设备的成本。其结果是，基础通信技术和标准将被广泛应用。»阅读更多

嵌入式FPGA之战
通过布莱恩•贝利- 2016年10月31日-评论

过去曾有许多尝试将[gettech id="31071" comment="FPGA"]嵌入到芯片中，但市场未能实现，或者解决方案未能激发灵感。一个早期的例子是[getentity id="22924" comment=" trisend "]，该公司成立于1997年，2004年被[getentity id="22839" e_name="Xilinx"]收购。它集成了一个cpu，从[getentity id="22186" co…»阅读更多

IP商业模式不断变化
通过安Mutschler- 2016年5月12日-意见:0

EDA和IP供应商更早地与晶圆代工厂就每个制造工艺节点进行接触，而这些晶圆代工厂则为客户提供更加优化和优化的工艺。作为其中的一部分，IP供应商必须将其IP产品移植到不同的代工厂和流程中，这对资源造成了挤压。这就提出了一些棘手的问题，比如如何优先考虑他们的工作。»阅读更多

2015年的问题和乐观
通过埃德·斯珀林- 2014年12月18日-意见:0

半导体行业的大多数高管都看好2015年甚至以后，特别是随着[getkc id="76" comment="物联网"]开始推动新市场和市场融合，以及越来越多的半导体进入汽车、医疗保健和制造业等市场。但这并不完全是一幅美好的图景，高管们指出，潜在的问题可能是…»阅读更多

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