在数据中心中寻找硬件相关错误


半导体行业迫切追求设计、监控和测试策略来帮助识别和消除硬件缺陷,可能会导致灾难性的错误。腐败的执行错误,也被称为沉默的数据错误,不能完全孤立与系统级测试——测试——甚至因为他们只出现在特定的条件下。解决环境康迪特……»阅读更多

产品老化测试的重要性


产品老化(BI)是不可或缺的一步生产测试流程,确保质量好,正常运转的产品为客户。公司以评级的质量交付给客户作为一个公司最高的美德。参见图1。图1:缺陷每百万(DPM)和DPM报道在五年内的目标。在集成电路(ic)有…»阅读更多

使用分析减少老化


硅提供者使用自适应测试流减少老化成本,很多方法之一,旨在遏制成本上升在先进的高级节点和包。没有人喜欢它当手机失败在第一个月的所有权。但更紧迫的问题在数据仓库服务器或汽车关键部件失败。可靠性预期…»阅读更多

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