中文 英语

Vineet Pancholi

(所有的帖子)
Vineet Pancholi是Amkor测试技术的高级总监。

作者最新文章

离散电源产品的生产测试
通过Vineet Pancholi- 2022年10月20日-评论:0

金属氧化物硅场效应晶体管(mosfet)、绝缘栅双极晶体管(igbt)、双极结晶体管(BJTs)、二极管和特定应用的多晶体管封装模块是一些比较受欢迎的离散产品。开关控制电路中的电流。mosfet是大多数电子器件的组成部分。»阅读更多

产品老化试验的重要性
通过Vineet Pancholi- 2021年7月22日-意见:0

产品老化(BI)是生产测试流程中必不可少的步骤，以确保为客户提供良好的质量和正常运行的产品。安可自豪地将“为客户提供优质服务”评为最高的企业美德之一。参见图1。图1:五年内报告的百万缺陷率(DPM)和DPM目标。内置集成电路(ic)有一个…»阅读更多

迎接5G RF生产测试服务的挑战
通过Vineet Pancholi- 2021年3月18日-意见:0

5G射频(RF)标准的实施正在迅速增加[1]。在过去的四到六个季度里，越来越多的人关注已被引入市场的出版物和产品。一些比较流行的射频生态系统应用包括手机、Wi-Fi、汽车、物联网(IoT)、位置服务等。无线网络和手机服务…»阅读更多

利用外包测试服务
通过Vineet Pancholi- 2020年11月19日-评论:0

近年来，在当今竞争激烈的商业世界中，商业模式已经转向了“服务”。像微软、亚马逊和谷歌这样的公司是主要的成功案例，它们通过业务支持服务推动了行业的发展。这些经济生产力提高服务使客户能够专注于产品架构、设计和快速上市。服务p…»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu