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DFT soc是最后,无处不在


在黎明的时候,集成电路设计流程的测试是最后的任务。首先,你设计的芯片,然后你写功能测试程序来验证它按预期执行后生产。没有太多的努力,一部分功能测试程序往往是重用的生产测试,以确定硅是没有缺陷。快进到今天,事情哈…»阅读更多

让集成电路测试更快和更容易:第1部分


集成电路测试的基本挑战已经很长一段时间。所有测试的核心策略是可控制性和可观测性。首先,控制芯片的状态与已知的测试向量,然后观察芯片,以确定是否展品良好的或错误的行为。多年来有很多创新,使所需的芯片测试更容易处理。谢谢……»阅读更多

建设桥梁:DFT的新范式


在过去的20年中,结构测试与扫描链在芯片设计已经成为普遍的方法。事实上,它卓越的认为我们今天与大多数电子设备(认为智能手机、笔记本电脑、电视等),包含成百上千的相互关联的扫描链用于验证半导体生产没有缺陷。因为小鬼……»阅读更多

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