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受限世界中的权力减少


在40-28nm刚出现的时候,无线设计的漏功率主导了优化技术的重点。这导致了数字设计的多重VT优化和电源意图管理,以最大限度地减少或关闭泄漏。随着无线设备转移到FinFET节点,动态功率成为主导。因此,优化技术的重点转向建立动态技术来补充现有的优化技术。»阅读更多

高性能、低功耗和测试:DFT对系统PPA和安全的影响


在过去,测试是系统设计和实现的事后考虑。这是一个单独的任务,可以添加到项目日程的末尾——本质上,就是在发送设计以供制造或在产品验证期间的复选框。如今,测试不再是事后才想到的,我们将看到它的重要性继续增长。安全关键型半导体应用»阅读更多

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