用BDA方法预测SAQP节距


IBM TJ沃森研究中心和伦斯勒理工学院的研究人员发表了一篇题为“深度学习神经网络中的贝叶斯dropout近似:自对齐四重模式的分析”的新技术论文。在这里找到技术文件。2022年11月出版。开放获取。Scott D. Halle, Derren N. Dunn, Allen H. Gabor, Max O. Bloomfield和Mark Sh…»阅读更多

提高产量的下一步措施


尽管设备尺寸越来越小,系统缺陷越来越多,数据量越来越大,竞争压力也越来越大,但芯片制造商正在大力开发新的工具和方法,以更快地实现足够的产量。无论3nm工艺正在升级,还是28nm工艺正在调整,重点都是降低缺陷。挑战在于迅速确定可以提高产量的指标。»阅读更多

测试连接清理与实时维护


测试设施开始实施实时维护,而不是定期维护,以降低制造成本并提高产品成品率。探针针和测试插座的自适应清洗可以延长设备寿命,减少产量偏差。负载板维修也是如此,它正在向预测性维护方向发展。但这种变化要复杂得多……»阅读更多

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