Deprocessing和SEM半导体失效分析


典型的半导体制造从金属和屏障层钝化层隔开。进一步玻璃钝化和/或聚酰亚胺层之上的这些提供环境和机械保护。光学显微镜利用光学显微镜,半导体等失效模式的死可以检查自上而下可见裂纹退化,溶解的金属导体,……»阅读更多

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