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半导体失效分析的预处理和扫描电子显微镜


典型的半导体是由钝化层分隔的金属层和势垒层制成的。进一步的玻璃化和/或聚酰亚胺层在这些提供环境和机械保护。光学显微镜通过光学显微镜,可以检查半导体芯片的失效模式,如自上而下的可见裂纹退化,金属导体的熔化,…»了解更多

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