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罗恩的新闻

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Ron Press是西门子EDA的技术支持总监。

作者最新文章

简化高级soc的DFT
通过罗恩的新闻- 2022年2月8日-评论:0

电子设计自动化(EDA)软件的目的是解决SoC设计问题，简化整个过程。对于测试设计(DFT)，这意味着旨在简化当今大型复杂设计的DFT开发。通过EDA供应商、晶圆代工厂和半导体公司之间的合作伙伴关系开发的技术和方法应该有效地降低风险，…»阅读更多

利用关键区域提高汽车IC测试质量
通过罗恩的新闻- 2020年9月3日-评论:0

为了在快速增长的汽车集成电路市场中竞争，半导体公司需要解决整个设计流程中的新挑战。为了满足ISO 26262中百万分之零缺陷(DPPM)的目标，DFT工程师采用了新的测试模式类型，包括细胞感知、互连和细胞间桥接(细胞邻域)。但是传统的选择类型的方法…»阅读更多

Arm核心的智能即插即用DFT
通过罗恩的新闻- 2019年6月11日-评论:0

随着越来越多的子系统ip被实现，现代soc的功能和设计尺寸正在持续增长。这些大型、复杂的多核soc需要DFT和ATPG策略，以有效地减少DFT工作量，最小化ATPG运行时，并仍然实现目标测试覆盖率。分层DFT能够以系统和重复的方式设计和测试这些设计。»阅读更多

更智能的DFT基础设施和自动化成为管理DFT设计扩展的关键
通过罗恩的新闻- 2017年12月21日-评论:0

对于大型和复杂的soc来说，DFT的现实为设计计划引入了新的风险。DFT团队在等待部分设计完成的同时，最终会在关键的路径上结束，并且比以往任何时候都有更多的DFT集成步骤。传统的DFT方法在大型设计中存在可重复性和可靠性问题。»阅读更多

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