DRAM芯片采用On-Die纠错和相关可靠性技术


这个新博士论文篇题为“启用有效的错误缓解内存芯片使用On-Die纠错编码”从苏黎世联邦理工学院研究员Minesh帕特尔赢得了IEEE威廉·c·卡特奖2022年6月。抽象的“内存存储密度的改善主要是由过程技术扩展,从而对可靠性造成负面影响的加剧各种circu……»阅读更多

Baidu