通过扫描测试交付


传统的方法将扫描测试数据从芯片级针移动到核心级扫描通道是在压力下由于设计尺寸急剧增加,设计复杂性和测试适应。为应对这些挑战,我们现在可以实现通过数据网络扫描测试,扫描数据通过SoC效率远远高于传统销-…»阅读更多

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