电力/性能:10月29日


芯片扫描南加州大学的研究人员和瑞士保罗谢勒研究所开发出x射线技术无损扫描芯片以确保他们符合规范。这样一个系统可以用来识别制造缺陷或恶意修改,该小组说。叫ptychographic x射线辐射分层照相术,这项技术利用x射线f……»阅读更多

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