标签:iJTAG

数字测试膨胀上升或下降
通过布来安梅奥- 08年12月,2020 -评论:2

大规模数字集成电路越来越难的测试时间和有成本效益的方式。特别是人工智能芯片,有平铺的架构施加压力在旧测试策略由于体积所需的测试向量。在某些情况下,这些芯片是如此之大超过分划板的尺寸,要求他们必须缝在一起。新的测试效率是必要的…»阅读更多

在硅启动一个突破
通过马修·诺尔斯11月- 12,2019 -评论:1

当前半导体市场正在日益复杂的硅设备5 g无线通信等应用程序,自动驾驶,和人工智能。的一个方法设计师正在努力控制设计时间和成本是通过采用IJTAG (IEEE 1687)即插即用IP集成在设计风格。使用IJTAG仍然是新兴的好处,……»阅读更多

简化硅与ATE-Connect吃设备启动和调试
通过导师,西门子业务11月- 11,2019 -评论:0

硅启动过程改进的时机已经成熟。Tessent SiliconInsight ATE-Connect技术消除了专有软件和DFT tester-specific平台之间的沟通障碍,加速IJTAG设备的调试,产品坡道,速度,降低了产品的上市时间5 g无线通信、自动驾驶和人工智能。读莫…»阅读更多

设备受到模拟内容?
通过布莱恩•贝利- 09年2月,2017 -评论:0

作为模拟的内容在连接设备爆炸,确保模拟部分正常工作的紧迫性。模拟电路需要解释物理世界和移动数据系统的其他部分,而数字电路是最快的方式处理它。所以传感器,给出了错误的读数在汽车高速移动或…»阅读更多

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