晶圆厂深入机器学习开车


先进的机器学习开始侵入产生增强方法晶圆厂和设备制造商寻求识别defectivity模式在晶圆图像的精度和速度更高。每个月一个晶圆厂主要生产数千万wafer-level图像检查、计量和测试。工程师必须分析这些数据来提高产量和拒绝……»阅读更多

追逐测试IC制造业逃


坏芯片的数量单通过测试和最终可以显著减少这些设备之前离开工厂,但成本的急剧发展中必要的测试和分析数据采用有限。确定一个可接受的测试逃脱度量的IC芯片制造业yield-to-quality比率提高至关重要,但到底是什么…»阅读更多

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