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从设计到测试集成电路(IC)是一个艰巨的过程,包括许多步骤,包括:测试设计(DFT):确保芯片设计的方式可以进行测试的过程开发:开发自动化测试程序(atp)台台:在台台评估设备,以确保设计……»阅读更多

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