进进出出的在线监测


软件在7和5 nm、监控越来越重要。首席执行官史蒂夫Crosher Moortec,谈到复杂性上升的影响,不同的用例和实现如何影响可靠性和正常运行时间,以及为什么测量电,电压和热应力可以用来统计预测失败和提高可靠性芯片的一生。»阅读更多

新的记忆方法和问题


新的内存类型和方法正在开发和测试DRAM和摩尔定律都失去动力,大大添加到接下来的混乱,这将如何影响芯片设计。适合在内存层次结构是什么变得不那么清晰的称为半导体行业应对这些变化。新的架构,如[getkc id = " 202 " kc_name = "扇出"]和[getk……»阅读更多

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