防止芯片在测试过程中燃烧


管理IC测试过程中产生的热量变得越来越困难。如果没有适当的缓解措施,很容易产生如此多的热量,以至于探测卡和芯片实际上可以烧毁。因此,实现温度管理技术正在成为IC测试的关键部分。“我们谈论系统,说系统很好,”高级管理人员阿伦•克里希纳莫蒂(Arun Krishnamoorthy)表示。»阅读更多

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