新的数据管理挑战


爆炸在半导体设计和制造业数据和扩大使用芯片在安全至上和任务关键型应用程序,促使芯片制造商收集并更有效地管理这些数据,以提高整体的性能和可靠性。这组数据揭示了许多挑战,没有简单的解决方案。数据可能是孤立的和不一致的,…»阅读更多

进进出出的在线监测


软件在7和5 nm、监控越来越重要。首席执行官史蒂夫Crosher Moortec,谈到复杂性上升的影响,不同的用例和实现如何影响可靠性和正常运行时间,以及为什么测量电,电压和热应力可以用来统计预测失败和提高可靠性芯片的一生。»阅读更多

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