•高丝

(所有的帖子)
•高丝失效分析专家在三角洲。他收到了MSc在发达国家和丹麦技术大学应用化学和化学工程理学学士学位从大学大学在土耳其。

作者的最新文章

失效分析的电子设备使用扫描声学显微镜
通过•高丝- 11年6月,2019 -评论:0

扫描声学显微镜或山姆,是一种非破坏性技术用于复杂设备的故障分析。山姆可以提供一个决议到亚微米厚度。山姆是一种有效的工具来分析层之间的附着力,在每一层的存在可能的缺陷。这可以使用例如调查密封,涂料,倒装芯片填充不足,BGA、QFN,薄片……»阅读更多

不同的故障分析方法
通过•高丝2019年5月- 07 -评论:0

被膜剥除术的塑料IC包在不同类型和大小由湿化学技术。研究设备使用在卫星和主题的一系列测试,要求模具被曝光。不同的包类型与非盟等改变大小和成键类型——和Cu-bonded包卸载和PCBA-mount组件成功实现。combin……»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权©2013 - 2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu