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快速估算MOSFET漏从低成本、低分辨率参数测试


MOSFET的方法估算subthershold组成部分断开的电流(Ioffs)使用低成本、低分辨率的快速并行参数检验。这种方法测量阈下的斜率和用它来估计Ioffs。测量单个晶体管显示测量Ioffs之间一个很好的协议,Ioffs估计使用我们的方法。对于一个简单pad-efficient tran……»阅读更多

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