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系统级测试方法采取中心舞台


因为电子系统终端用户市场的所有应用程序必须提供尽可能高的可靠性来匹配客户的质量预期,半导体组件进行多个测试和压力措施排除缺陷可能出现在他们的生命周期。由于新的半导体设备的增加设计复杂度和极端过程技术,增加测试……»阅读更多

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