头条新闻
更快的收益率坡道策略5 nm芯片
智能软件发现EUV随机缺陷和失踪通过改善晶片产量。
发现和应用专业领域集成电路分析
需要一个专家团队建立和有效地使用分析。
硅生命周期管理日益增长的对集成电路可靠性的影响
SLM被集成到芯片设计的改进异构芯片和复杂系统的可靠性。
博客
Synopsys对此“杰瑞·洛托指出,一些不太常见的注意事项对评估系统的适用性高性能工作负载,选择合适的体系结构的高性能计算服务器接口。
到创新的梅尔文李显示外部检测系统,故障检测和分类的软件,增加沛富衬底产量,将缺陷消灭在萌芽状态。
西门子Harshitha Kodali描述了一个自动化的方法记忆库映射和验证,DFT插入、和DFT区域优化,通过一个共享的总线接口自动记忆测试。
Teradyne克里斯托Pantelidis提出了一个混合的统计模型来评估一个常见的图像传感器缺陷,检测空间斑点图像传感器设备。
赞助商白皮书
共享总线内存测试自动化Tessent MemoryBIST
使用一个公共访问点几个记忆改善核心性能和降低成本。
案例研究——3 d丝焊检验和计量
大汽车供应商如何管理3 d丝焊检验和计量。
提取薄同时具有常数材料ITF的内在力学性能分析
从nanoindentation测量获得substrate-independent属性。iTF程序和指导方针,分析半导体应用程序性能的材料。
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