头条新闻
连接不同数据的使能器和障碍
在某些情况下,集成多种类型的数据是可能的,但仍然不容易。
错误越多,记忆的修正就越多
随着密度的增加,新技术增加了准确性的成本。
处理平行测试站点到站点的变化
为什么这是一个日益严重的问题,以及它是如何被解决的。
博客
Onto的Benoit Ravot展示了FTIR建模如何根据材料的键合类型提供用于成分过程控制的指标FTIR高级建模为HVM提供了新的应用.
西门子Jayant D ' souza为小批量测试车辆和产品斜坡提供了一种替代标准故障隔离技术的方案新型可逆链诊断提高分辨率.
Advantest的Philip Brock和Louis Benton, Jr.以及Microchip的Jonvyn Wongso透露,无钥匙入口fob中的每个模块都构成了特定的测试挑战和限制汽车无钥匙进入SoC测试方法和技术.
Synopsys的史蒂夫·帕特拉斯(Steve Pateras)介绍了硅生命周期管理如何扩展到投产和现场操作将硅生命周期管理扩展到实时系统性能优化.
赞助白皮书
可逆链诊断
提高扫描链诊断分辨率4倍。
工业射线照相。计量应用的CT扫描
评估校准扫描工件的测量,在整个机器的可用工作量中间隔重复。
利用皮秒激光声学测量在不透明层下的叠加和对准标记成像
表征嵌入在不透明金属薄膜下的覆盖层和对准模式的另一种方法。
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