标签:ICs

增加IC预见性维护
通过安妮Meixner- 07年2月,2023 -评论:0

芯片行业开始添加技术,可以早期预测即将到来的失败足以避免严重的问题,无论是在制造业和领域。工程师越来越多地使用在线监控嵌入在SoC设计捕捉设备故障前的生产流程。但对于ICs,数据跟踪从设计到应用程序只使用最近……»阅读更多

周评:物联网、安全、汽车
通过杰夫Dorsch2019年5月- 03 -评论:0

物联网AT&T报告窄带的激活物联网网络在美国承运人升级其4 g LTE手机网站。现在提供了两种低功耗广域网络业务的客户,包括其LTE-M网络在墨西哥和美国“网络都是为物联网设计许可范围内,提供运营级安全,�…»阅读更多

测试模拟芯片
通过杰夫Dorsch2018年2月- 05(-评论:0

模拟组件是广泛和多样化的世界,虽然测试模拟芯片可能不承担复杂的出类拔萃,只要运行测试模拟装置有不同的要求。一种类型的芯片,这些天看到更多应用程序是模拟微机电系统设备。汽车电子称的[getkc id = " 37 " kc_name = "模拟"]芯片,以及……»阅读更多

专家在餐桌上:20 nm打破系统级设计吗?
通过埃德·斯珀林- 7月26日,2012 -评论:0

由安Steffora Mutschler系统级设计坐下来讨论设计在20 nm Wingard,首席技术官超音速;开氏度低,产品营销副主任GlobalFoundries,弗兰克•Schirrmeister集团产品营销主管在系统和软件系统开发实现集团在节奏;和迈克Gianfagna,负责营销的副总裁……»阅读更多

未来铸造问题
通过埃德·斯珀林7月- 13,2012 -评论:0

半导体制造与设计与Luigi Capodieci研究员GlobalFoundries,对EUV,在20 nm和超越的挑战,未来的铸造模型。[youtube视频= YXov4y0kpfU]»阅读更多

制造业的未来
通过埃德·斯珀林——6月26日,2012 -评论:0

半导体制造和设计的马克与Randhir Thakur LaPedus会谈,总经理应用材料的硅系统集团,铸造厂的改变什么,必要的设备创建ICs,和在结构和材料用于这些ICs。[youtube视频= y_b5G6J6UwU]»阅读更多

新的可靠性问题
通过阿尔温德•韦尔- 14,2012 -评论:0

由Arvind Shanmugavel ICs的可靠性越来越关心的一个话题每个技术节点迁移。的发病20 nm制程节点不同的铸造厂,可靠性验证舞台的中心在设计工具和有充分的理由。可靠性利润率持续下降,已到达一个拐点20 nm节点。设计和EDA社区哈…»阅读更多

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