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>系统级别测试-入门:白皮书
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系统级别测试-入门:白皮书
通过
Teradyne
- 2023年1月10日-意见:0
随着半导体几何尺寸越来越小,芯片或封装的复杂性越来越大,系统级测试(SLT)变得必不可少。Teradyne系统级测试部门的系统架构师Peter Reichert讨论了什么是系统级测试,以及它如何提高最终产品质量和缩短上市时间。请按此处下载白皮书。
»阅读更多
系统级别测试-入门
通过
Teradyne
- 2022年6月7日-评论:0
随着半导体几何尺寸越来越小,芯片或封装的复杂性越来越大,系统级测试(SLT)变得必不可少。SLT正在测试一个被测设备(DUT),因为它在最终使用系统中使用,只是使用它,而不是像传统的自动化测试设备(ATE)那样创建测试向量。测试仍然是用不同的方式写的…Pete…
»阅读更多
在线测试的编程设备
通过
Teradyne
- 2014年12月6日-评论:0
制造商在决定在哪里以及如何为他们的设备编程时有很大的灵活性。在采购和制造过程中,组件可以在许多阶段进行编程。这份Teradyne白皮书解释了为什么在线测试是生产线上将固件编程成组件或将数据编程到闪存中的理想阶段。下载本白皮书了解h…
»阅读更多
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