确定时间延迟可以提高芯片的可靠性


越来越大的压力来提高集成电路可靠性在安全、关键任务应用程序引发需求定制自动化测试模式生成(生成)来检测小时间延迟,和芯片遥测电路,它可以评估时间保证金在芯片的一生。知道时机保证金在信号路径可靠性已成为一个重要的组成部分。时间关系……»阅读更多

筛查沉默的数据错误


工程师们开始理解沉默的原因数据错误(sd)和数据中心故障原因,这两个可以减少通过增加测试覆盖率和提高检验关键层。沉默的数据错误是如此命名是因为如果工程师不找他们,他们不知道它们的存在。与其他类型的错误行为,这些错误也可以c…»阅读更多

与机器学习突破扫描诊断


Cell-aware诊断是一种新的和有效的方法来检测标准细胞内部缺陷。行业标准失效分析(FA)主要铸造结果表明cell-aware诊断非常有效地增加诊断的决议通过减少嫌疑人cell-internal缺陷数据的数量。与先进的技术节点,我们有更复杂的布局结构和f……»阅读更多

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