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标签:老化测试

高压测试遥遥领先
通过凯伦·海曼- 2022年12月6日-评论

电压需求不断增加，尤其是电动汽车市场。甚至可能被认为电压相对较低的设备，如显示驱动器，现在也超过了既定的基准。虽然在高压环境下工作并不是什么新鲜事——许多工程师都能回忆起他们工作场所的黄色警告带——但数量众多、种类繁多的新要求已经使测试变得非常困难。»阅读更多

更多生产问题，更多测试
通过埃德·斯珀林- 2022年2月8日-评论:0

Advantest America首席执行官Douglas Lefever接受了《半导体工程》的采访，讨论了测试中的变化、先进封装的影响以及整个流程中正在发生的业务变化。以下是那次讨论的节选。SE:接下来的测试中有哪些大的变化?勒菲弗:这不是拐点，更像是从代数到微积分……»阅读更多

失效预测对包装技术至关重要
通过山姆距首都普里什蒂纳- 2021年11月18日-评论:0

不久前，我写了一篇关于我所谓的“包装十诫”的文章——关于开发新的包装解决方案，我列出了需要牢记的关键事项。今天，包装工程师必须应对比以往任何时候都多的变量，从新的衬底材料到更复杂的更多类型的包装。这种复杂性带来了新的挑战，我觉得……»阅读更多

产品老化试验的重要性
通过Vineet Pancholi- 2021年7月22日-意见:0

产品老化(BI)是生产测试流程中必不可少的步骤，以确保为客户提供良好的质量和正常运行的产品。安可自豪地将“为客户提供优质服务”评为最高的企业美德之一。参见图1。图1:五年内报告的百万缺陷率(DPM)和DPM目标。内置集成电路(ic)有一个…»阅读更多

自适应测试取得进展
通过安妮Meixner- 2020年11月10日-评论:0

不是所有的设备都以同样的方式进行测试，这是一件好事。质量、测试成本和产量促使产品工程师采用属于自适应测试的测试过程，自适应测试使用测试数据来修改后续的测试过程。但是要执行这样的技术，需要后勤支持数据分析，以及支持基于测试的更改…»阅读更多

在芯片制造中利用数据
通过埃德·斯珀林- 2019年11月12日-评论:0

PDF Solutions总裁兼首席执行官John Kibarian接受了《半导体工程》(Semiconductor Engineering)的采访，谈论了数据分析对从产量和可靠性到组织内部结构等各个方面的影响，云和边缘如何协同工作，以及未来的大威胁在哪里。SE:你是什么时候意识到数据对硬件设计和制造如此重要的……»阅读更多

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