利用数据定位芯片上最可能出现缺陷的区域。
高级节点的复杂性不断增加，使得定位缺陷和潜在缺陷变得更加困难，因为在领先的芯片设计中，需要覆盖的表面积更大，而各个组件之间的空间更小。Siemens Digital Industries Software的技术支持总监Ron Press谈到了为什么预测这些设计中最有可能出现缺陷的地方是如此重要，以及如何优化测试模式，以便能够快速地通过测试锁定这些区域。
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