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一次测试并不总是足够的


为了提高产量、质量和成本,可以将两个单独的测试参数结合起来,以确定零件是否通过或不合格。通过这种方法收集的结果更加准确,可以让测试和质量工程师更快地发现故障部件,发现更多的测试逃逸,并最终提高成品率,降低制造成本。新的数据分析平台,结合更好地利用s…»阅读更多

在IC制造中追逐测试逃脱


在这些设备离开晶片厂之前,通过测试并最终进入现场的坏芯片数量可以大大减少,但开发必要测试和分析数据的成本严重限制了采用。为集成电路确定一个可接受的测试逃脱指标对于提高芯片制造中的产量与质量比至关重要,但究竟是什么?»阅读更多

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