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启用2.5D, 3D堆叠ic的测试策略


改进的可测试性,加上在更多插入点进行更多测试,正成为创建可靠的、异构的、具有足够产量的2.5D和3D设计的关键策略。许多改变需要落实到位,以使并排的2.5D和3D堆叠方法具有成本效益,特别是对于那些希望集成来自不同供应商的芯片的公司。今天,几乎所有的…»阅读更多

负担得起的3D堆叠模具设备的全面测试


在模具尺寸方面面临制造限制的高端半导体产品开发人员正在投资3D堆叠模具技术。这些先进的设计已经将当前的测试设计(DFT)解决方案推向了极限:工具运行时间、片上区域需求、测试模式计数和测试时间。那么,设计师如何为这些新的3D设备管理DFT呢?在本文中,我们比…»阅读更多

混合债券进入快车道


业界对I/O密度和芯片(尤其是逻辑和高速缓存存储器)之间更快连接的不可抑制的渴望,正在将系统设计转变为包含3D架构,而混合键合已成为这一方程式中的一个重要组成部分。混合键合涉及芯片到晶圆或晶圆到晶圆的铜垫片连接,这些铜垫片携带电源和信号,以及周围的双…»阅读更多

保持IC封装的低温


将多个芯片并排放置在一个封装中可以缓解热问题,但随着公司进一步研究芯片堆叠和更密集的封装以提高性能和降低功耗,他们正在努力解决一系列与热相关的新问题。向先进封装的转变使芯片制造商能够满足对提高带宽、时钟速度和功率密度的需求,以实现高性能…»阅读更多

为3d - ic做准备


专家:Semiconductor Engineering坐下来讨论3D-IC所需的设计工具和方法的变化,与Ansys 3D-IC总监和产品专家Sooyong Kim;Synopsys产品营销总监Kenneth Larsen;Siemens EDA高级包装解决方案总监Tony Mastroianni;Cadence公司产品管理组总监维奈·帕特瓦汉……»阅读更多

为3D-IC设计设定基本规则


专家:Semiconductor Engineering坐下来讨论3D-IC所需的设计工具和方法的变化,与Ansys 3D-IC总监和产品专家Sooyong Kim;Synopsys产品营销总监Kenneth Larsen;Siemens EDA高级包装解决方案总监Tony Mastroianni;Cadence公司产品管理组总监维奈·帕特瓦汉……»阅读更多

晶圆凹凸检测面临越来越大的挑战


随着先进封装成为主流,确保晶圆凸点的一致性已成为晶圆代工厂和osat的关键问题。CyberOptics的计算机视觉工程经理John Hoffman谈到了向中线的转变以及这是如何影响检测和计量的,为什么对共面性和对齐有如此多的关注,变化是如何叠加和创造的……»阅读更多

新电源,性能选项在边缘


边缘计算智能的不断提高迫使芯片架构师重新考虑如何划分计算和优先级,以及哪种处理元素和内存配置最适合特定应用程序。将原始数据发送到云端进行处理既耗费时间又耗费资源,而且通常是不必要的,因为不断增长的用户收集的大部分数据都是数据。»阅读更多

半导体的复兴


半导体和终端市场的重大转变正在推动一些人所说的技术复兴,但应对这种新的、多方面的要求可能会给芯片行业带来一些结构性变化,因为单个公司做所有事情变得更加困难。在过去的十年里,移动电话行业一直是半导体生态环境的主要驱动力。»阅读更多

日益复杂的包装


Synopsys的Rita Horner介绍了先进封装的设计方面,包括目前如何选择工具,在保持低延迟和低功耗的同时集成IP需要考虑什么,为什么在某些方面甚至比最先进的平面芯片设计更复杂,以及工具流程中仍然缺少什么。»阅读更多

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