标签:探针

集成电路测试期间清理
通过安妮Meixner- 06年7月,2021 -评论:2

测试是一个肮脏的行业。它可以污染一个单元或晶片,或测试硬件,进而可能会导致一些问题。虽然这并没有被忽视,特别是在成本上升将增加销和球密度,和越来越多的芯片包捆绑在一起,污垢的成本继续成为焦点。清洁配方测试接口板正在发生变化,并分析……»阅读更多

晶圆测试管理
通过安妮Meixner——5月19日,2021 -评论:1

每一个晶圆测试接地要求之间的平衡良好的电接触,防止损坏晶片和探针卡。做错了,它可以毁掉一个晶片和定制的探针卡,导致较差的收益,以及失败。实现这种平衡需要良好的晶片探索过程过程以及产生的工艺参数监控,这……»阅读更多

消除接地回路感应噪声
通过彼得·安德鲁斯10月- 13,2020 -评论:0

随着半导体器件的性能增加,特别是对于低功率和高速度ICs,测试低频1 / f,研制和相位噪声提高信噪比是必需的。发现和消除不必要的噪音是需要在多个领域。噪声源可以发现在一个探测器,探测器外,测量TestCell。从历史上看,TestCell-generated噪声啊……»阅读更多

加热低温晶圆测试
通过托马斯·凡克——5月12日,2020 -评论:0

薄片上的使用超导材料、其他新颖的材料,传统半导体在低温下(大约123 k以下,或-150°C)近年来增长迅速。发明新的传感器利用独特的材料特性在非常低的温度来检测各种各样的物理现象,如红外辐射、磁场,x射线等等。T…»阅读更多

探测系统的服务协议
通过埃里克汉森- 07年4月,2020 -评论:0

探测系统服务协议可以带来简单和心灵的安宁时保持设备工作在最佳性能。我们猜测的维护预算通过提供零部件和劳动覆盖在一个单一的、低成本。优先级服务和交付部分消除浪费时间等待维护或维修配件。全面、预定preve……»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权©2013 - 2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu