标签:蒙特卡罗

模型变化及其对细胞的影响特征
通过Umang Doshi- 05年11月2020 -评论:0

EDA(电子设计自动化)细胞特征工具已经被广泛地用于生成模型时间、功率和噪声在角落数量快速增长的过程。今天,模型变化已成为一个关键组成部分细胞特征。由于过程会影响电路的时序变化,电压、温度变化和可能导致违反时间,导致我…»阅读更多

机器学习High-Sigma启用验证内存设计
通过Nebabie Kebebew10月- 15,2020 -评论:0

新兴应用程序和大数据爆炸使内存IPs在现代电子产品无处不在。具体来说,对记忆与low-die区域的需求,低电压,高容量,高绩效上升为数据中心和云计算服务器。这是至关重要的指数增长的连接服务繁荣和最新的基于新兴5 g的系统,includin……»阅读更多

蒙特卡罗分析使用Synopsys对此定制设计平台
通过Synopsys对此- 9月23日,2020 -评论:0

在这个5系列的视频,Kai Wang Synopsys对此工程主管,解释了蒙特卡罗提高产量的需要,以及设计师如何使用高级特性变化范围和σ放大,以避免昂贵的MC模拟。点击这里观看这个视频白皮书。»阅读更多

问题和解决方案在模拟电路设计
通过安Mutschler- 05年8月,2020 -评论:1

先进的芯片设计成为一个伟大的均衡器对模拟和数字在每个新节点。模拟IP有更多的数字电路,数字设计更容易受到各种噪声和信号中断困扰多年来模拟设计。这是使设计、测试和包装的soc更加复杂。模拟组件导致大部分芯片生产测试失败……»阅读更多

时间图书馆LVF验证生产设计流程
通过WeiLii谭- 2月27日,2020 -评论:2

建模已经发展在过去的几年中变化从一个降额因子代表芯片上变异(缴纳),自由变体格式(LVF),今天主要的标准格式,在时机库(lib)封装变化信息。LVF数据被认为是先进的流程节点22纳米和下面的要求。最小的流程节点如7海里……»阅读更多

汽车集成电路设计要求下一代High-Sigma验证
通过杰夫•戴克- 07年2月,2019 -评论:0

杰夫·戴克High-sigma分析验证复制所需的组件,如内存块和标准电池,展示任务关键型汽车和医疗应用程序的可靠性。这不是可行的验证使用蛮力蒙特卡罗high-sigma,这需要10年代数以百万计的模拟达到σ5和数十亿以达到六西格玛。年代……»阅读更多

过程变化和老化
通过安Mutschler1月17日,2019 -评论:0

半导体工程坐下来讨论设计可靠性和电路老化,若昂Geada的解释,首席技术专家在ANSYS半导体业务单元;Hany Elhak、产品管理总监、模拟和描述定制集成电路和电路板组节奏;Christoph Sohrmann,先进的物理验证弗劳恩霍夫东亚峰会;Naseer汗,负责销售的副总裁米……»阅读更多

SRAM的预测可靠性在严酷的环境下引起的机械应力
通过弗劳恩霍夫东亚峰会- 07年11月,2018 -评论:0

例子的28 nm SRAM阵列,这项工作提出了一种新颖的可靠性研究考虑外部电路模拟应用机械应力的影响。该方法能够预测的失败造成的压力通过压阻效应。每个单一的稳定SRAM单元模拟使用静态噪声容限。最后,整个阵列的性能…»阅读更多

实用的方法来克服的挑战3 d逻辑设计
通过本杰明·文森特- 25,2018 -评论:0

你该怎么做,如果你没有足够的空间来存储你的地板上你所有的旧盒子吗?幸运的是,我们生活在一个三维的世界,你可以开始堆积在彼此的。挑战:如何缩小逻辑器件?逻辑设计师目前面临着更大的挑战比你可能在整理你的存储区域。不仅是逻辑细胞高度拥挤在一起…»阅读更多

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