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一个测试是远远不够的


提高产量、质量和成本,可以结合两个单独的测试参数确定一部分通过或失败。结果从这种方法更准确,允许测试和质量工程师失败部分早,发现更多测试逃脱,并最终提高产量和降低制造成本。新数据分析平台,结合更好的利用年代……»阅读更多

使用分析减少老化


硅提供者使用自适应测试流减少老化成本,很多方法之一,旨在遏制成本上升在先进的高级节点和包。没有人喜欢它当手机失败在第一个月的所有权。但更紧迫的问题在数据仓库服务器或汽车关键部件失败。可靠性预期…»阅读更多

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