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处理平行测试站点到站点的变化


使用相同的ATE并行测试多个设备可以减少测试时间和降低成本,但这需要工程技巧来实现。最小化每个被测设备(DUT)的测试测量变化是一个多物理场问题,在每个新工艺节点和多芯片封装中,这是一个越来越重要的问题。它需要同步的el…»阅读更多

一次测试并不总是足够的


为了提高产量、质量和成本,可以将两个单独的测试参数结合起来,以确定零件是否通过或不合格。通过这种方法收集的结果更加准确,可以让测试和质量工程师更快地发现故障部件,发现更多的测试逃逸,并最终提高成品率,降低制造成本。新的数据分析平台,结合更好地利用s…»阅读更多

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