摘要
电阻开关(RS)器件是一种新兴的电子元件，可应用于多种类型的集成电路，包括电子存储器、真随机数发生器、射频开关、神经形态视觉传感器和人工神经网络。阻碍RS器件在商业电路中大规模应用的主要因素与可变性和可靠性问题有关，这些问题通常通过开关耐力测试来评估。然而，我们注意到，大多数声称高耐久>106周期的研究是基于包含很少数据点(在许多情况下甚至小于20)的电阻与周期图，并且仅在一台设备中收集。我们建议不要使用这种表征方法，因为它是高度不准确和不可靠的(即，它不能可靠地证明设备在每个周期中有效地切换，并且它忽略了周期到周期和设备到设备的变异性)。这使人们对RS设备的真实性能产生了模糊的认识，在许多情况下夸大了它们的潜力。本文提出并描述了RS器件中开关持久度的正确表征方法;该方法旨在构建耐力图，显示每个周期和电阻状态的一个数据点，并结合来自多个设备的数据。采用这种推荐的方法应该会在RS技术领域产生更多可靠的文献，这应该会加速它们在商业产品中的集成。”
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出版日期:2021年11月3日
https://doi.org/10.1021/acsnano.1c06980
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