头条新闻
系统产量问题现在是高级节点的首要任务
需要模式识别、机器学习和实时分析来根除系统缺陷。
对Fab工具采用预测性维护
预测性维护减少了设备停机时间,同时提高了晶圆厂效率。
高压测试遥遥领先
SiC和GaN器件的测试随着市场的发展而发展,但差距仍然存在。
视频
无声数据破坏
如何防止可能导致错误的缺陷。
RISC-V中的高效跟踪
如何使用新的RISC-V调试标准。
博客
Onto Innovation的迈克·麦金太尔解释了如何在孤立的事件中找出共同因素计量抽样计划是设备分析和可追溯性的关键.
西门子的Peter Shields检查RISC-V设计的高效轨迹,图在RISC-V中管理风险。
Synopsys的Pawini Mahajan展示了如何确保设计是dft友好的基于不断发展技术的可测试性分析。
Teradyne的Eli Roth充分阐述了无恶意软件的晶圆厂设备集成的重要性确保您的半导体测试设备免受日益增长的网络安全威胁.
Advantest的Zhenhua Chen解释了为什么测量ATE PCB测试夹具是一个关键步骤,可以节省时间,在以后一种定制的低成本ATE测试夹具s参数验证方法.
赞助白皮书
为您的SoC增加差异化价值并减少IP集成时间
预验证的IP原型解决方案、sdk和IP子系统帮助SoC设计团队专注于差异化块,并减少IP集成时间。
分组扫描测试
DFT用于测试流扫描网络的复杂soc。
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